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產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
缺陷圖例
晶硅電池隱裂檢測(cè)
主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測(cè)
檢測(cè)工位:
1、制絨前
2、制絨后
檢測(cè)內(nèi)容:
隱裂、崩邊、缺口、碎片
下載資料
產(chǎn)品下載
驗(yàn)證
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
一體化
隱裂碎片檢測(cè)模塊
全定制光學(xué)系統(tǒng)(售價(jià)更低,性能更好)
高效AI算法(算法時(shí)間250ms以內(nèi))
缺陷圖例
隱裂缺陷-1
隱裂缺陷-2
隱裂缺陷-3
隱裂缺陷-4
隱裂缺陷-5
隱裂缺陷-6
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